Nakamura T., Yamada M., Hirano S., Takano Y., Saito A., Takeishi K., Suzuki T., Sekiya N., Yoko M., Ohshima S.(ohshima@yz.yamagata-u.ac.jp), Watanabe T.(watanabe@te.noda.sut.ac.jp)
Nakamura T., Mukaida M., Saito A., Ohshima S., Takeishi K., Takano Y.(tsion@pop02.odn.ne.jp), Suzuki T., Yokoo M.
Ключевые слова: measurement technique, critical current density, HTS, films, YBCO, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.